阿贝原则是仪器设计中一个非常重要的设计原则。古典的阿贝原则是阿贝于1890年提出的一项测量仪设计的指导性原则。他说：要是测量已给出精确的测量结果，必须将被测件布置在基准元件沿运动方向的延长线上。因此可以称为共线原则。阿贝原则的经典应用是阿贝尔比长仪和螺旋千分尺，其精度为um级别。阿贝原则（ Abb's principle）：被测量轴线只有与标准量的测量轴线重合或在其延长线上时，测量才会得到精确地结果。阿贝原则是长度计量的最基本原则，其意义在于它避免了因导轨误差引起的一次测量误差。

阿贝原则

阿贝原则（ Abb's principle)：被测量轴线只有与标准量的测量轴线重合或在其延长线上时，测量才会得到精确地结果。

阿贝原则是长度计量的最基本原则，其意义在于它避免了因导轨误差引起的一次测量误差。在检定和测试中遵守阿贝原则可提高测量的准确度，特别是在使用不符合阿贝原则的仪器时，更要注意阿贝原则的应用。

例：千分尺，内径千分尺等符合；游标卡尺不符合。

典型仪器

阿贝原则的经典应用是阿贝尔比长仪和螺旋千分尺，其精度为um级别。下面对螺旋千分尺的结构和工作原理进行介绍。

外径千分尺

图3所示为用外径千分尺测量工件直径，符合目前的阿贝原则，因为这里作为标准尺的千分尺测微螺杆轴线在图3 外径千分尺被测线的延长线上。如果在测量过程中，两手扶持千分尺的A、B两点，则尺身在重力作用下会发生如图所示的变形。显然，存在一个关于角度变形△a的一次误差

△l=-htan△a=-h△a显然，这是由于尺身的角度变形△a和h共同导致千分尺零位的一个附加变化所引起的。注意到，若h=0，同样存在△a，但不会有一次误差。

阿贝比长仪

一种精密测量直线距离的仪器﹐简称比长仪（图4）。在天文工作中﹐用于测量底片上谱线间的距离。比长仪的量程200毫米﹐测量精度可达±1.5微米。仪器分三部分﹕精密导轨。置片台﹐是一块可沿导轨移动的钢板﹐它的一侧装着一条透明毫米尺﹐另一侧放待测底片。两架固定联结的显微镜﹕一架用来对物体﹐称为对准显微镜﹔另一架用来对准毫米尺上的刻线和读数﹐称为读数显微镜。移动置片台﹐当对准显微镜从对准一条谱线到另一条谱线时﹐读数显微镜对准的毫米尺上的二次读数之差﹐即为谱线间的距离。根据阿贝提出的原理﹐只要待测对象和毫米尺精确地位于同一高度﹐置片台的滑动误差就不会影响测量精度。

图4 阿贝比长仪仪器设计要求读数显微镜物镜的放大率必须为5 倍，这样，石英标尺上相距为1 mm 的两条刻划线，经物镜成像在分划板上后，其像的间距为5 mm，刚好与固定分划板上10 个分度的总长度相等，这样，固定分划板上的一个刻度格的长度，对应于石英标尺上的实际距离为0. 1 mm。因此二圈螺旋线之分度值为l/ 10 mm。圆刻尺一个分度值为1/ 1 000 mm。因此转动手柄2，分别读出转动前和转动后的读数便可以得出移动的长度。